X-Analysisは画面設計情報をIBM i （AS/400)の既存リソースから抽出するとともに、その設計内容における影響度評価を行っています。
特徴
画面メトリクス機能
X-Analysisは、画面プログラムや画面装置ファイル（DSPF）のメンテナンスにおける影響度をあらかじめ知るために定義内容や条件チェックなどを測定し、一覧化しています。
様々な変更に対して、定量情報で影響度を測ることができます。
- ユニット：当該プログラムによって使用されている画面の数
- ファイル：画面内で使用されるファイル数
- DBフィールド：画面内で参照しているデータベースファイルのフィールド数
- Workフィールド：一時的に使用される作業用のフィールド数
- コール：当該プログラムの画面内からコールされるプログラム/画面の数
- 被コール：当該プログラムの画面に対してコールする画面の数
- ファンクションキー：画面で定義されたファンクションキーの数
- 条件フィールド：当該プログラムの画面における入力チェックの数
画面デザインビューア・画面フィールド詳細リスト機能
X-Analysisは、画面デザインを定義内容からリバースを行い、グラフィカルに表示します。
同時に、画面フィールドの詳細情報もリスト化します。
ファイルフィールドと関連する場合は、そのファイル名や入出力の制御内容が明らかになります。
各画面フィールド行から右クリックで、そのフィールドに値がセットされるまでの変数の置換・代入の変遷をキャッチすることも可能です。（詳細はこちらをクリック）
